化學(xué)儀器模板

惡劣環(huán)境中的非接觸式 3D 計(jì)量

在涉及的環(huán)境中測量

• 放射性

• 非常高的熱量

• 極冷（低溫）溫度，或

• 真空或蒸發(fā) 室

對(duì)操作員和大多數(shù)主流計(jì)量系統(tǒng)都提出了挑戰(zhàn)。但不適合所有人。

NOVACAM 3D 計(jì)量系統(tǒng)通過底層光學(xué)傳感技術(shù)（低相干干涉測量）和基于光纖的設(shè)計(jì)的獨(dú)特組合，在惡劣環(huán)境中提供亞微米精度的非接觸式計(jì)量。

• 放射性環(huán)境： Novacam 計(jì)量系統(tǒng)測量放射性目標(biāo)的點(diǎn)蝕，并在反應(yīng)堆冷卻系統(tǒng)內(nèi)的焊縫檢查中檢測表面和亞表面裂紋。請閱讀   核工業(yè)非接觸式 3D 測量應(yīng)用說明 [3 頁，PDF，0.4 MB]，了解使用 NOVACAM 3D 計(jì)量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的測量類型。

• 非常熱的環(huán)境：蒸發(fā)、熔化或凝固的材料都可以使用 NOVACAM 堅(jiān)固的非接觸式探頭進(jìn)行檢查。在處理極熱液體（如熾熱鋼、等離子或連鑄金屬）的行業(yè)中，探頭會(huì)在過程中連續(xù)掃描表面，檢測微米級(jí)的表面變化。高速提供表面粗糙度或涂層厚度特征，以幫助檢測微小表面裂紋等缺陷。

• 低溫環(huán)境： 我們的系統(tǒng)測量 NASA 推進(jìn)系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室低溫室中的液氮水平。

• 蒸發(fā)室： 我們的計(jì)量系統(tǒng)在沉積過程中監(jiān)測半導(dǎo)體或金屬涂層的厚度。這樣，就確定了涂裝過程的最佳停止時(shí)間。